6.2.1工作原理
扇形体质谱仪的工作原理如图 6.3 所示。-
图 6.3: 180° 扇形体质谱仪的工作原理
中性气体粒子在离子源中通过电子碰撞(图 6.4 a)进行电 离。由此产生的离子具有质量 m 与电荷 q,电子通过电势梯 度U 移向扇形磁场,同时产生动能,
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E_{kin}=q\cdot U=\frac{m\cdot v^2}{2} 公式 6-1: 动能
即它们以 速度
v=\sqrt{\frac{2qU}{m}} 通过扇形场。在这里,电荷是相同的,
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F=q\cdot v\cdot B 公式 6-2: 洛伦兹力
在半径为 r 的圆形路径上,洛伦兹力等于向心力。
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q\cdot v\cdot B=m\cdot v^2/r 公式 6-3: 力的平衡
这用于计算路径的半径
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r=\frac{m\cdot v}{q\cdot B}\mbox{$$ \text{및 공식 6.1} $$}r=\sqrt{\frac{2mU}{qB^2}} 公式 6-4: 路径半径
用于泄漏探测器的扇形场质谱仪配备了永磁体,该永磁体提 供恒定磁场,在图 6.3 中,其位置与图像平面垂直。质谱仪 以这样的方式调节:单电荷氦离子首先通过孔口,然后通过 出口狭缝,最后撞击探测器。 所有其它分子无法通过狭缝并 重新进行中和。测量的氦离子电流与氦分压成正比。从公式 6-4 中可以看出,通过加速电压 U 可以改变路径的半径。实 际上,使用不仅仅限于偏转 4氦,而且还限于将 m/em/e 之比为 2:3 的离子向出口狭缝偏转,以便检测气体氢和 3氦。
在泄漏检测中,为获得氦测试气体的高检测灵敏度,扇形场 质谱仪装有灵敏探测器。直接的金属收集器(法拉第杯)不 再符合现在的要求,所以现代的泄漏测试仪结合了微通道 板,其结构非常紧凑,具有高增益和低噪声。这些在两侧均 具有金属涂层的玻璃微通道板具有大量的细微通道,这些通 道以很微小的角度一直通向端面(图 6.4 b),且其内表面也 有涂层。如果离子撞击该表面,则触发二次电子雪崩,且通 过施加在板上的电压向探测器加速。
在泄漏检测中,为获得氦测试气体的高检测灵敏度,扇形场 质谱仪装有灵敏探测器。直接的金属收集器(法拉第杯)不 再符合现在的要求,所以现代的泄漏测试仪结合了微通道 板,其结构非常紧凑,具有高增益和低噪声。这些在两侧均 具有金属涂层的玻璃微通道板具有大量的细微通道,这些通 道以很微小的角度一直通向端面(图 6.4 b),且其内表面也 有涂层。如果离子撞击该表面,则触发二次电子雪崩,且通 过施加在板上的电压向探测器加速。
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图 6.4: 扇形场质谱仪:(a) 离子源,(b) 探测器
根据公式 6-4,轨迹半径与磁场成反比。永磁体的可用材料对 磁场强度有限制。这导致氦质谱仪典型的半径为 10 cm 的量 级。为确保离子轨迹不受到碰撞的妨碍,平均路径长度必须 大约是相同的数量级。因此,氦扇形场质谱仪的最大连续工 作压力大约为 10-5 hPa。
6.2.2 应用说明
检测氦气的扇形场质谱仪现在集成在具有自动控制真空系统 的泄漏检测仪里。因此,操作者不必担心质谱仪的功能能 力。我们提请您注意内表面的清洁对保持高检测灵敏度的重 要性。- 当有散射离子撞击时,沉积物可以导致局部空间电荷。这 些电荷使氦离子路径发生偏转,并减少达到探测器的离子 数量。
- 微通道板上的沉积物减少二次电子的产率,并因此降低了 放大因子。
虽然可以简单地清扫质谱仪的内壁,但受污染的微通道板必 须更换。物体和设备保持清洁极其重要,以保持仪器的高检 测灵敏度。